芯片的测试主要分为三大类：芯片功能测试、性能测试、可靠性测试。这三大测试缺一不可。

其中，芯片的可靠性测试可以测试芯片是否会被冬天里的静电弄坏，在雷雨天、三伏天、风雪天等复杂环境中能否正常工作，以及新开发的芯片能使用一个月、一年还是十年的使用寿命等等。要知道到这些问题，都需要通过可靠性测试进行评估。
    而芯片可靠性测试中，不可或缺的是HAST测试！

    HAST高压加速老化测试【Highly Accelerated Stress Test】可检测芯片封装的耐湿能力，待测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气是否会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体从而损坏芯片。

JESD22-A118试验规范与条件（HAST无偏压试验）：
    用来评价器件在潮湿环境中的可靠性，即施加严酷的温度、湿度及提高水汽压力通过外部保护材料（包封料或密封料）或沿着外部保护材料和金属导体介面的渗透，其失效机制与[85℃/85%RH]高温高湿稳态温度寿命试验（JESD22-A101-B）相同，该试验过程未施加偏压以确保失效机制不被偏压所掩盖。需要注意的是，由于吸收的水汽会降低大多数聚合物材料的玻璃化转变速度，当温度高于玻璃化转变温度时，可能会出现非真实的失效模式。

    常用测试条件：110℃/85%RH——264小时。

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